- Ionenstrahl-Mikroanalyse
- Io|nen|strahl-Mi|k|ro|a|na|ly|se; Abk.: IMA, IPMA, ISMA: selten benutzte Bez. für eine bevorzugt ↑ Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) genannte Oberflächenanalysentechnik.
Universal-Lexikon. 2012.
Ionenstrahl-Mikroanalyse
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IMA — [Abk. für Ionenstrahl Mikroanalyse]: svw.: ↑ Sekundärionen Massenspektrometrie … Universal-Lexikon
IPMA — [Abk. für engl. ion probe microanalysis = Ionenstrahl Mikroanalyse]: svw. ↑ Sekundärionen Massenspektrometrie … Universal-Lexikon
ISMA — [Abk. für Ionenstrahl Mikroanalyse]: svw.: ↑ Sekundärionen Massenspektrometrie … Universal-Lexikon
Sekundärionen-Massenspektrometrie — Se|kun|där|io|nen Mas|sen|spek|t|ro|me|t|rie [↑ sekundär (1)]; Abk. SIMS; Syn.: Ionenstrahl Mikroanalyse (IMA, IMMA, IPMA, ISMA): ein Verfahren der ↑ Massenspektroskopie zur qual. u. quant. Analyse der Oberflächen von Werkstoffen mit Hilfe einer… … Universal-Lexikon
